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HTML

Díaz Márquez, Pablo / Galeano Gil, Germán / Sánchez Alonso, José Carlos
HTML
Este libro está dirigido a todos aquellos usuarios de Internet que quieran aprender cómo crear páginas Web, ya que HTML es el lenguaje estándar utilizado en la Web para rep la información intercambiada por sus usuarios en forma de documentos de hipertexto. En este libro le enseñaremos los principios básicos de HTML, comenzando desde cero, y avanzando poco a poco hasta alcanzar un buen nivel de conocimientos, todo ello de una forma gradual y pr...

CHF 46.50

Algoritmos para la optimización de rutas

Díaz Díaz, José Carlos
Algoritmos para la optimización de rutas
Esta tesis tiene como objetivo fundamental la implementación de un Software que automatice la planificación de rutas de una empresa. Para sustentar el sistema propuesto, se aplicó el modelo matemático del Problema del Viajante Asimétrico (PVA). Este modelo permite obtener las rutas de distribución dado las direcciones de los clientes. Para obtener la solución del PVA se proponen varios algoritmos heurísticos exitosos, entre ellos se encuentran...

CHF 64.00

El nuevo pensamiento de Franz Rosenzweig

Díaz, Carlos
El nuevo pensamiento de Franz Rosenzweig
CADA VEZ QUE UN HOMBRE PIENSA SE INTRODUCE NOVEDAD EN EL MUNDO, AL MENOS NOVEDAD SUBJETIVA: LO QUE ESE SER HUMANO PIENSA DEJA DE SER NOVEDAD PARA ÉL. EN ESTE LIBRO TRATAMOS DE SABER SI EL ASÍ LLAMADO NUEVO PENSAMIENTO ES TAN NUEVO COMO PARA QUE MARQUE UN ANTES Y UN DESPUÉS. A ESTO TENEMOS QUE RESPONDER QUE SU POSIBLE NOVEDAD HISTÓRICA RADICA EN ESE GIRO QUE SIGNIFICA PENSAR A PARTIR DE LA FE ¿Y MÁS EN CONCRETO DE LA FE JUDÍA¿ CON CATEGORÍAS RE...

CHF 23.90

Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits

Diaz, Carlos H. / Duvvury, Charvaka / Sung-Mo (Steve) Kang
Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits
Electrical overstress (EOS) and Electrostatic discharge (ESD) pose one of the most dominant threats to integrated circuits (ICs). These reliability concerns are becoming more serious with the downward scaling of device feature sizes. Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits presents a comprehensive analysis of EOS/ESD-related failures in I/O protection devices in integrated circuits. The design of I/O protection circuits has be...

CHF 188.00