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Este hombre, este mundo

Díaz, Carlos
Este hombre, este mundo
El conocido filósofo Carlos Díaz reflexiona sobre las principales claves de un mundo en transformación: el sentido de la democracia, el islamismo, la natalidad, los medios de comunicación, la religión y el laicismo, la justicia social...

CHF 29.90

Personalismo jurídico y derecho canónico : estudios juríd...

Díaz Moreno, José María / Morán Bustos, Carlos Manuel / Peña García, Carmen
Personalismo jurídico y derecho canónico : estudios jurídicos en homenaje al P. Luis Vela, S.J
Una de las características del actual Código de Derecho Canónico es su fuerte impronta personalista, perceptible a lo largo de todo su articulado, y de modo muy notable, en la regulación del matrimonio. En esta obra, en la que han participado profesores de diversas universidades civiles y eclesiásticas y colaboradores de los Tribunales eclesiásticos, se estudian, desde diversas perspectivas, los rastros de esta impronta personalista del Código...

CHF 36.50

Didáctica de las grandes religiones de Occidente

Díaz, Carlos
Didáctica de las grandes religiones de Occidente
Este libro quiere hablar de experiencias, de lo que han vivido pueblos y gentes del uno al otro confín. Con un lenguaje comprensible y una metodología sencilla, analiza la religión en el eje cultural y social. Desde que el mundo es mundo existe el hecho religioso. Nada más antiguo y nada más moderno que el hecho religioso. Decía Voltaire que si Dios no existiera sería necesario inventarlo. George Washington afirmó también: "educa hombres sin r...

CHF 20.90

Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits

Diaz, Carlos H. / Duvvury, Charvaka / Sung-Mo (Steve) Kang
Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits
Electrical overstress (EOS) and Electrostatic discharge (ESD) pose one of the most dominant threats to integrated circuits (ICs). These reliability concerns are becoming more serious with the downward scaling of device feature sizes. Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits presents a comprehensive analysis of EOS/ESD-related failures in I/O protection devices in integrated circuits. The design of I/O protection circuits has be...

CHF 188.00