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Built in Test for VLSI

Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.

CHF 307.00

Lieferbar

ISBN 9780471624639
Sprache eng
Cover Fester Einband
Verlag Wiley
Jahr 19871020

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