Dannaq kniga poswqschena issledowaniü faktorow, wliqüschih na degradaciü rabochih harakteristik swetoizluchaüschih diodow. V knige dan obzor razwitiq swetoizluchaüschih diodow, proillüstrirowany osnownye oblasti primeneniq swetoizluchaüschih diodow, rassmotreny peredowye tehnologii wyraschiwaniq mnogokomponentnyh nanogeterostruktur (MLJe i MOS-gidridnyj metod), predstawlen analiz wozmozhnyh mehanizmow degradacii harakteristik swetoizluchaüschih diodow. Kniga prednaznachaetsq shirokomu krugu chitatelej, interesuüschihsq optoälektronikoj.