Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Goel, Sandeep K. / Chakrabarty, Krishnendu

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Goel, Sandeep K. / Chakrabarty, Krishnendu

CHF 106.00

Lieferbar

ISBN	9781138075771
Sprache	eng
Cover	Kartonierter Einband (Kt)
Verlag	Taylor and Francis
Jahr	20170329

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