Trois techniques ont été développées pour la caractérisation électrique des matériaux pour les applications radiofréquences. La caractérisation électromagnétique de matériaux est une activité croissante avec de nombreuses applications industrielles tels que la microélectronique, l'aéronautique, la médecine, etc. Une monture coaxiale a été réalisée pour la caractérisation de matériaux mous. La technique de deux lignes de transmission a été développée afin de s'affranchir de l'influence des discontinuités au niveau des connecteurs. Parmi les techniques développées, celles dites affleurantes utilisant la sonde coaxiale en réflexion (S.C.R) et/ou en transmission (S.C.T) a permis la caractérisation de la silice, de l'alumine 99, 9% et du silicium. En utilisant un connecteur SMA, nous avons extrait une tangente de perte inférieure à 0.01 dans la bande allant de quelques MHz à 14GHz et des permittivités relatives jusqu'à 18GHz pour une erreur relative de 3%.