Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.
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ISBN | 9783824420919 |
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Sprache | ger |
Cover | Kartonierter Einband (Kt) |
Verlag | Deutscher Universitätsverlag |
Jahr | 19970923 |
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